江蘇三米科思半導體設備有限公司，總部坐落于江蘇常州，由國際光電子領域高端學者，多年半導體產業經驗的資深人員組成。核心研發團隊和管理層包括斯坦福大學、美國硅谷、江蘇省雙創博士等知名博士、學者組成。公司專注于開發圖形半導體晶圓缺陷檢測設備，填補國家半導體納米級圖形晶圓缺陷檢測的技術空白，打造國際一流的半導體檢測設備生產商。 該產品可應用于半導體圖形晶圓曝光、刻蝕、清洗等工藝制程。有效地對半導體行業200mm和300mm集成電路前道制造良率進行監控，可準確、快速地識別相關缺陷。